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超聲波直探頭、雙晶探頭、斜探頭校準方法

  • 發(fā)布日期:2022-08-31      瀏覽次數(shù):3627
    • 超聲波檢測中聲速和探頭零點校準是因為狀態(tài)行所顯示參數(shù)的計算都是與聲速和探頭零點相關,所以在探傷前請務必校準;聲程校準是為了使屏幕上顯示適當聲程范圍內的波形,以便更好地判斷、評價缺陷。


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      一、直探頭校準(單晶探頭)


      根據(jù)聲速和探頭零點的已知情況,確定校準步驟。若聲速未知,則應先進行聲速校準;若聲速已知,則跳過聲速校準,調節(jié)聲速為已知聲速后用一點法進行探頭零點校準。


      1、已知材料聲速校準


      步驟:


      (1) 材料聲速設置為已知材料聲速,


      (2)  把探頭耦合到校準試塊上,


      (3)  設定閘門邏輯為單閘門方式,即設為進波報警或失波報警邏輯,把閘門套住一次回波,此時聲程測量的是一次回波處的聲程,


      (4)  調節(jié)探頭零點,使得狀態(tài)行的聲程測量值(S)與試塊的已知厚度相同,此時所得到的探頭零點是該探頭的準確探頭零點。


      2、未知材料聲速校準


      步驟:


      (1)  先初步設定一大概的聲速值;


      (2)  調節(jié)閘門邏輯為雙閘門方式;


      (3)  將探頭耦合到一個與被測材料相同且厚度已知的試塊上;


      (4)  移動閘門A的起點到一次回波并與之相交,調節(jié)閘門A的高度低于一次回波幅值至適當位置,閘門A不能與二次回波相交;


      (5)  移動閘門B的起點到二次回波并與之相交,調節(jié)閘門B的高度低于二次回波幅值至適當位置,閘門B不能與一次回波相交;


      (6)  調節(jié)聲速,使得狀態(tài)行顯示的聲程測量值(S)與試塊實際厚度相同,此時,所得到的聲速是這種探傷條件下的準確聲速值。


      (7)  設定閘門邏輯為單閘門方式,即設為進波報警或失波報警邏輯,此時聲程測量的是一次回波處的聲程;


      (8)  調節(jié)探頭零點,使得狀態(tài)行的聲程測量值(S)與試塊的已知厚度相同,此時所得到的探頭零點是該探頭的準確探頭零點。




      材料聲速未知,設置接近的材料聲速為5920m/s,設置閘門邏輯為雙閘門方式,同時探頭零點設置為0;將探頭耦合到50mm的標定試塊上,并將閘A門調到與一次回波相交的位置,將B閘門調到與二次回波相交的位置;


      二、雙晶探頭校準 增加聲速值,直到一、二次回波間聲程顯示的值為50mm,現(xiàn)在便測得了材料的準確聲速是6024m/s;再將閘門設置為單閘門方式,測量一次回波處的聲程,連續(xù)調節(jié)探頭零點直到一次回波處測得的聲程值為50mm,現(xiàn)在便測得了探頭零點為0.125us。

      校準步驟:

      (1) 在收發(fā)組內設置雙探頭狀態(tài);

      (2) 依照當前測試任務和選用探頭設置好聲程、收發(fā)組各功能項目;

      (3) 將探頭耦合到標定試塊上,調節(jié)基本組中的探頭零點直到標定回波接近要求的位置,同時二次回波也在顯示范圍之內;

      (4) 調節(jié)增益值直到幅值的回波接近全屏高度;

      (5) 在閘門組內打開雙閘門;

      (6) 在設置功能組選擇前沿測量方式;

      (7) 移動閘門A的起點到一次回波并與之相交,閘門A不能與二次回波相交;

      (8) 移動閘門B的起點到二次回波并與之相交,閘門B不能與一次回波相交;

      (9) 調整閘門高度,使其位于兩個校準回波前沿的相同位置;

      (10) 然后改變聲速,直至顯示出標定試塊的厚度值;

      (11) 設定閘門邏輯為單閘門方式,即設為進波報警或失波報警邏輯,此時聲程測量的是一次回波處的聲程;

      (12) 調節(jié)探頭零點,使得狀態(tài)行的聲程測量值與試塊的已知厚度相同。

      三、斜探頭校準

      1、校準入射點(探頭前沿):用IIW試塊(又稱荷蘭試塊)或CSK-IA試塊測斜探頭零點,將儀器聲速調節(jié)為3230m/s,顯示范圍為150mm,然后開始測試,用戶如圖將探頭放在試塊上并移動,使得R100mm的圓弧面的反射體回波達到,用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離,此值即為該探頭的前沿值,R100mm弧圓心對應探頭上的位置即為探頭入射點。 斜探頭校準通常需要以下步驟:1、校準入射點(探頭前沿);2、校準探頭角度(K值);3、校準材料聲速;4校準探頭零點。

      2、校準探頭角度(K值):用角度值標定的探頭可用IIW試塊校準,如果是用K值標定的探頭,可用CSK-IA試塊校準。這兩種試塊上有角度或K值的標尺,按探頭標稱值選擇合適的標尺(右圖所示,在IIW試塊上側可校準60-76度的探頭,下側可校準74-80度的探頭,CSK-IA試塊上側可校準K2.0、K2.5、K3.0的探頭,下側可校準K1.0、K1.5的探頭。請按試塊上的標定值選擇用合適的校準試塊及校準方法)。如圖放置探頭,左右移動使得反射體回波達到,此時入射點對應的刻度是探頭的角度或K值。

      3、校準材料聲速按照1中所述找到R100mm的反射波,調節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波,選擇閘門方式為雙閘門,調節(jié)A閘門與一次回波相交,調節(jié)B閘門與二次回波相交,調節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測量值(S)為100,此時得到的聲速值即為該材料的實際聲速值。

      4、校準探頭零點保持上面的測量狀態(tài),將閘門方式改為正或負,調節(jié)探頭零點使得狀態(tài)行中聲程測量值(S)再次為100,此時得到的探頭零點值即為該探頭的零點值。

      斜探頭的校準方法有很多,并不*拘泥于用標準試塊進行校準,也可以用已知深度的小孔進行校準,理論上參考反射體越小,校準的精度越高,但校準的難度也相應的加大。用小孔校準時可通過測量小孔的深度和水平位置,計算斜率來校準角度,并利用測得的深度或水平位置值校準聲速和探頭零點。