射線探傷儀的介紹及原理

 

所謂射線探傷是利用某種射線來檢查焊縫內(nèi)部缺陷的一種方法。常用的射線有X射線和γ射線兩種。X射線和γ射線能不同程度地透過金屬材料，對(duì)照相膠片產(chǎn)生感光作用。利用這種性能，當(dāng)射線通過被檢查的焊縫時(shí)，因焊縫缺陷對(duì)射線的吸收能力不同，使射線落在膠片上的強(qiáng)度不一樣，膠片感光程度也不一樣，這樣能準(zhǔn)確、可靠、非破壞性地顯示缺陷的形狀、位置和大小。
X射線透照時(shí)間短、速度快，檢查厚度小于30mm時(shí)，顯示缺陷的靈敏度高，但設(shè)備復(fù)雜、費(fèi)用大，穿透能力比γ射線小。
γ射線能透照300mm厚的鋼板，透照時(shí)不需要電源，方便野外工作，環(huán)縫時(shí)可一次曝光，但透照時(shí)間長(zhǎng)，不宜用于小于50mm構(gòu)件的透照。
作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線探傷，在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用，它既用于金屬檢查，也用于非金屬檢查。對(duì)金屬內(nèi)部可能產(chǎn)生的缺陷，如氣孔、針孔、夾雜、疏松、裂紋、偏析、未焊透和熔合不足等，都可以用射線檢查。應(yīng)用的行業(yè)有特種設(shè)備、航空航天、船舶、兵器、水工成套設(shè)備和橋梁鋼結(jié)構(gòu)。利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測(cè)被檢物中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。
原理：被測(cè)物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為
,通過線吸收系數(shù)為μ的、厚度為t的材料后，強(qiáng)度因被吸收而衰減為

，其關(guān)系為
。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測(cè)定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測(cè)定法。